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  • 韩国XRF-2000X射镀层测厚仪规格

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    点击量: 86829 来源: 上海精诚兴仪器仪表有限公司

    韩国Micor Pioneer XRF-2000 X射线测厚仪结构功能

     

    器功能 : 測量电镀层厚度

    系统结构 :

    箱,用分析电脑,液晶显示屏,色打印

    尺寸

    610 x 670 x 600 mm(订制加高型主机箱高度超过600mm)

    箱重 : 约75 公斤

    配件重量 : 約 35 公斤

    样品台承重:5KG

    以滑鼠移方式,驱动 XYZ 三,步进马达

    XYZ 片台移动尺寸

    200 x 150 x 100 mm

    准直一个可选0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm

    件包括 视察软件,

    系统软件包括,测量,统计 

    系统功能

    测单层,双层或多层或合金层电镀厚度

    标准规格

    自动雷射对焦,XYZ全自XYZ片台,自动调整档案功能,电镀药液测量.元素配.

    主机箱:

    输入电压力:AC220V± 10% 50/60HZ

    沟通方法:RS-232C

    温度控制:前置放大及机箱温度控制

    对焦:雷射对焦

    安全装置:如测量中机箱门打开,X射线0.5秒内自动关闭

    表面泄漏:少于1usv

    多通道分析

    通道数量:1024ch

    脉冲处理:微电脑高速处理器

    X射线源

    X射线管:油冷

    高压:0-50KV(程控)

    管电流0-1mA(程控)

    目标杷:W靶

    校正及应用:单镀层,双镀层,合金镀层,标准样品再校正

    2D,3D随机位置测量

    2D:均距表面测量

    3D:表面排列处理测量

    随机位置:任意设定测量点

    检测器:正比计数器

    检测器滤片:CO或Ni(选项)

    X-Y-Z三轴样品台

    操作模式:高速精密马达,可控制加减速度

    2D,3D随机定位,鼠标定定,样品台视窗控制,程控定位

    机箱门打开关闭Y轴自动感应

    统计功能:打印报告可显示**/*小值,位移,平均值,标准差,测量位置图片显示及Bar图表等

    多种测量报表模式可选(可插入公司标志及客户名称)


    定性分析:

    原素频谱显示,ROI距离定性分析,标签图案显示

    指标显示:显示原素及测量数值,显示ROI彩**

    放大功能:局部放大,平均功能:柔和显法频谱

    视窗大小:无级别式视窗大小.

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